yieldHUBは、クラウドを利用した歩留まり管理システムで、世界中のファブレス、IDM、OSATに活用されています。
yieldHUBは半導体テストの専門知識や分析技術と、進化を続けるクラウドネットワークデータベースを組み合わせる事で、費用対効果の高いソリューションを提供します。
- データモデルはWafer1枚から数ロト分、数MB~数TBとスケーラブルです。
- 対象データをアップロードするだけでデータベースに取り込みます。
これは巧妙なデータ処理と革新的なデータベース設計により、数百ものウェハに相当するデータを短時間で分析します。分析作業はWebブラウザーを使用して行われます。 - 世界のFabless、IDM、OSATの各企業で利用が進んでおり、そこから構築されたナレッジベースの共用化等World Wideサポートをリアルタイムに提供しています。
- 独自のSecurity環境構築が必須の企業にはオンプレミスオプションがあります。
Base Core System
- AWS (Amazon Web Service)
- High Security yieldHUBホスト
- 顧客単位で独立のFirewall
- 1GB ~数TBのデータ
- 短時間処理プロセス
- On Premise (option)
- ユーザ拠点での独自Hosting
エンジニアリングツール
- パラメトリック解析
- ビン解析
- インデックス相関
- Engineering Data Base
- テストタイム解析
- レポートの即時共有
- ナレッジベース&コメント
- 半導体固有のチャート
新製品立上評価
エンジニアリング機能に追加して:
- 特性評価
- Gage R&R(Repeat & Reproduce)
- 感度分析(Sensitivity)
- 仮想再テスト(Virtual Retest)
- 計算処理テスト(Calculated)
量産対応
- 自動データ取り込み
- 生産量データのスケーリング
- 歩留まり、Bin & Parametrice Aleart
- Bin & Parametrice Trend
- Bin & Parametrice Search
- レポートのスケジューリング
- プログラム変更の検出
- WAT/PCM解析
- ANOVA(分散解析)
カスタムツール
- Integration with MES(Manufacturing Execution System)
- In Line Fab data
例 - Combined Electrical Data Report
- Multi Substrate相関
- 耐放射線評価
- リアルタイム SPC (Statistical Process Control)
yieldHUBのご紹介ー会社と製品の概要説明
機能概要デモビデオ
半導体のケーススタディ: 歩留まり管理ソフトウェア
半導体のケーススタディ: 歩留まり管理ソフトウェア 4.51 MB
歩留まり管理ソフトウェアのアウトソーシング
yieldHUBがエンジニアをより効率的にする方法をご覧ください
YMSが企業の品質、信頼性、トレーサビリティの要件を満たすのにどのように役立つかを学びます
STDF機能を拡張する方法をご覧ください
ビッグデータソリューション
ビッグデータソリューション 1.62 MB
昨今の半導体テストではGBクラスのログが毎日のように生成され、歩留管理、解析、改善に
活用される時代になりました。そんな中、大量のデータをまるで小規模データと同様なスピード感で
処理するyield management platformがあります。
yieldHUBをあなたも1度体験してみませんか?