Windows環境のパワフルで廉価なベクター変換ソフトウェア

TestDeveloper(TD)は、Microsoft Windowsプラットフォームで動作するTSSI社の強力なベクター変換ツールです。

TDはTD-SCANとTD-SIMパッケージがあります。これらのTDパッケージは、ATEパートナーと共に開発され、アナログ、ミックスシグナル、RF、車載などのアプリケーションにおけるソリューションを提供します。

TD-SCANは、スキャンパターン(WGL,STIL)のみのサポートで、TD-SIMは、スキャンとサイクライズが要求されるファンクションパターン（VCD,EVCD)をサポートします。

TD-Scanとは、柔軟で使いやすい、パフォーマンスの良いテストプログラム開発ソフトウェアです。

TD-Scan for National Instrumentsは、WGLとIEEE1450 STILのシミュレーションベクタデータを読み込み、NI PXIディジタルテストシステムへ変換します。 LabVIEWデータを作成できるため、エンジニアはWGLとSTILベクタをLabVIEWグラフィカルシステムデザインソフトウェアと、NI Digital Waveform Editorに読み込んで取り扱うことができます。いずれも、NIディジタルテストハードウェアを制御することができます。

特徴

WGLとSTILパタンファイルを読み込み
NI 65XXハイスピードディジタルI/Oシリーズのプロラム生成
強力な波形表示と対話型編集機能
GUIおよびバッチ動作
NI LabVIEW環境との協調

主な機能

サンプリングクロック周波数を調整して波形精度、チャンネルメモリを最適化
最大クロック周波数とスロット間エッジ遅延自動チェック
デバイスチャンネルとシステムボードレイアウト自動設定
NI製品サポート
- PXI/PCI-6541/6542
- PXI/PCI-6544/6545
- PXI/PCI-6547/6548
- PXI/PCI-6551/6552
- PXI/PCI-6561/6562

中間データベースへ保存

TD-Scan for National Instrumentsは、WGLとSTILファイルを読み込み中間データベースに保存します。データ分析と調整は波形エディタを使って中間データベースに直接行われます。その後、データベースからLabVIEWデータを生成しますので、大きなパタンでは変換時間を短縮できます。