新しいプレシリコン・パターン検証ツール

プレシリコン・パタン検証ツールで、設計者とテストエンジニアが同じ環境下で作業できます

SCANやファンクションパタン(ATPG, BIST, STIL, WGL, 各種ATEプラットフォーム, IPコアベンダー)を、設計者のDUTモデルで、検証することができます。　初期段階で問題を抽出することによって、多大なコストをかけずに解決することができます。

共通の問題

パタン変換やパタン統合することによって、設計者が当初想定していることから変更されてしまう
設計者チームは、パタン品質のフィードバックを待つか、テスト技術者チームに依存しなければならない
設計者とテストエンジニアの不正確なコミュニケーションに起因して、開発サイクルが長くなる
パタンデバッグ時に、設計とテストのデータ相関をとることが自動化されていない
サイクルベースのパターンを印加するとDUTが誤った動作をする
ATE間の変換誤差がある　等

Solsticeは環境を変えます

Solsticeは、設計とテストの相互作用の方法を変更します。設計者チームは、自身のテストプラットフォームを生成、検証でき、Solsticeの検証済みシミュレーションフローを再利用することができます。実行可能なフローダイアグラムで、パターン変換や特定ATEのパタンを設計シミュレーション環境で検証できます。テストエンジニアは、実際のデバイスが無い段階でテストパターンの検証を開始できます。問題のレポートや画面のスクリーンショットを送らなくても、テスト・エンジニアチームは、フェイル箇所と原因を設計者と共有することができ、設計者は同じシミュレーション環境下で問題点を再現することができます。

主要な論理シミュレータとのSolsticeのシームレス・インテグレーションは、ATEパターンの期待値と、DUTの間の相違を即時表示します。Solsticeの強力なグラフィカル・ユーザ・インタフェース（GUI）は、デザイン・タイムスタンプ対テスター・サイクルのストローブ配置とタイプ（エッジ、または、ウィンドウ）（フェイルの性質）と相関関係を表示します。

故障情報のログは、カスタムメイドのシミュレーション環境でも、後処理目的で利用可能です。エラー・ログファイルをSolsticeの波形エディタにドラッグ＆ドロップします。

EDAのエラーフォーマット（シミュレータ、または、ATPGツールから）とSTDF（ATE標準データ・フェイル・フォーマット）を、サポートします。

プロトタイプでは数十億サイクルで、何千ものピンでフェイルし、多くはスキャン・チェーンに埋もれています。フェイルの特定のシグネチャを見ることは、デザインの特定地域、または、テストパターンの領域を探すヒントになります。デザイン、または、テストで、Solsticeのスマートな波形ズーミング機能（最新のデータベース・ランダムアクセス技法）で、フェイルがチェッカ・パターンか、コーナーか、対称形かといったの外観を示します。

「バーズアイ」ビューも、フェイル領域の集中部を表示します。

STILファイルを検証するのと同様に、ATE固有のパターンも、同じ方法で操作できます。下のスクリーンショットで、一組のアドバンテストV93000ファイルが検証されています。一組のピン、タイミングとバイナリパターン・ファイルです。タイミング・セット番号、等式セット番号とスペック・セット番号は、V93000ファイルで必要とする3つの付加パラメータです。これらはSolsticeのPropertySheetで、入力でき、残りは上のSTIL例と同じです。