Home LSIテスティングソリューション, 製品とサービス LSIテスト用ソフトウェア開発サービス LSIテスト用ソフトウェア開発サービス 2017.01.13 LSIテスティングソリューション、製品とサービス 半導体テスト用ソフトウェア構築サービス National Instruments社のNI LabVIEWは、計測制御システム用のグラフィカルなプログラム開発環境です。NI LabVIEWを使用して、複数の計測器をGPIBで接続制御し、半導体テストを行うアプリケーション・ソフトウェアを、低コスト短納期で開発します。 特徴 パラメータの設定は、選択、ボタン、スライダーなどを使用したグラフィックによる操作 複数の計測器をGPIB制御し、計測、データ収集、結果表示、データ保存を自動的に行えます 収集したデータより演算した結果を様々なグラフ表示、グラフィプロパティの変更可能 結果はExcelやテキストファイルに保存してレポート作成可能 利点 USB I/Fにより各種計測器をGPIB制御できます プロトタイプによるアプリケーションプログラム仕様策定が可能で短納期で開発できます ソースプログラムを提供しますので、NI LabVIEW開発環境を購入すればエンドユーザでプログラム改訂が可能です NI, LabVIEWはNational Instruments社の登録商標です yieldHUB Cloud Based Yield Management LSIテスタ用パフォーマンスボード NI用TD-SCAN PRO ワイヤレステスト業界のリーダー IDDxロードボードモニタ LSIテスト用ソフトウェア開発サービス システムLSIテスティングサービス STILに対応した設計・テスト環境構築ツール Solsticeテストプログラム/パターン生成 Windows環境のパワフルで廉価なベクター変換ソフトウェア Tweet Share Hatena Pocket RSS feedly Pin it