システムLSIテスティングサービス

近年、プロセスの微細化、設計ツールの発達・自動化により、高性能・多機能なシステムＬＳＩが数多く開発される様になりました。それと同時に、システムＬＳＩのテスト開発・評価業務には、幅広い知識と高い技術力が要求される様になりました。また対応するテストシステム、関連装置、治具等の高価格化、テスト開発の長期化等によるテストコストの増大が、顕著化しています。　弊社では、この様な状況において、システムＬＳＩのテストに関する総合的なサービス

テスティング・コンサルタント及びテスト技術トレーニングお客様のご要求にあったデバイス評価からパッケージング及びテストを一貫してコーディネイトさせて頂きます。
テストプログラム開発、デバイス評価及びDFTテスト(Scan/BIST/IDDQ) お客様の設計段階からテスト手法を考え、量産テストまでの最適なテストプログラム開発をお約束致します。
デバイス故障解析・回路修正サービスデバイス内部の故障箇所を特定し物理解析を行います。また、お客様の指示により、配線切断、接続も行います。
ベンチ評価ボード製作/LSIテスト治具製作/LSIテストボード製作作業
テスト・データ処理等のソフトウェア開発・運用 * 伝送路解析(SI)・グランドバウンズ(PI)のシミュレーション・サービス

故障解析に求められる事は、解析TATが短い事、原因が解明できる事です。解析準備ポイント解析時にデバイスの故障が再現し、観測できる様にするため、テスタと解析装置を直接接続し解析が可能です。時間短縮のためにＣＡＤデータの準備を行うために、強力なナビゲーション機能を活用し、効率的に解析が可能です。　サービス項目目的別に解析（試作品解析/戻入品解析/歩留まり解析） DC不良、ファンクション不良の現象分析ウェハ/パッケージ共に解析可能パッケージ開封、ソケット開口等の準備作業も実施

Advantest	T33xx Series, T66xx/T65xx Series, T2000 Series
Agilent	83000/93000 Series, 94000/949x Series
旧Ando	DIC8000/9000 Series, AL727x Series (LTX)
Credence	ASL Series, Diamond
Teradyne	J9xx Series, J750/Flex, A500 Series, Catalyst
TESEDA	V520
Yokogawa	TS6000 Series

サービスの概要

サービスの内容

サービスの概要

対象テストシステム

デバイス故障解析サービス

FIB利用による回路修正サービス

DCパラメトリックテスト用インターフェース

SerDesテストソリューション

広帯域 PCBコネクタ&ケーブル

デスクトップ型DUT加温冷却システム（温度環境試験装置）

ペリフェラルパッケージ ICテストソケット

NI用TD-SCAN PRO

トピックス

高速デジタル計測 SI/PI製品

テスターインターフェース

LSIテスティング

ATEサービス

評価検証のテクニカル・アドバイザー