DDRxメモリ測定インターポーザ
NEXUS Technologyのコンポーネントインターポーザは,オシロスコープによる
DDRxデバイス信号の観測に最適な物理プロービングポイントを提供します。
測定容易性とシグナルインテグリティのトレードオフを考慮,終端抵抗内蔵基板を
ベースとした次の3種類のタイプが用意されています。
・ソケットマウント:
DUT, インターポーザ本体共にGrypperソケットで着脱交換可能。
・ダイレクトタイプ:
DUT, インターポーザ本体共にハンダ実装で固定。
・Edge Probe:
ダイレクトタイプと同構造。インターポーザ基板エッジ部にプローブポイントを設け,メモリ直近での測定が可能。
※ 他に,ロジックアナライザ対応インターポーザもラインアップされています。
資料-プロービングの悩みを解決するソケット技術 4.53 MB
資料: Designing High Performance Interposers with 3-port and 6-port S-parameters (DesignCon 2015) 3.34 MB
